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早产儿磁共振成像安全性之研究进展

邓庆期; 徐鑫芬 浙江大学医学院附属妇产科医院; 浙江杭州310006
磁共振成像   早产儿   脑发育   脑白质损伤   安全  

摘要:现代医疗技术的进步使早产儿死亡率降低,然而神经发育异常的现象仍普遍存在。极低出生体质量儿(very low birth weight,VLBW)脑瘫的发生率约为10%,神经运动缺陷及认知行为功能障碍等异常发生率高达40%。早产儿脑损伤类型分为脑室内出血(germinal matrix-intraventricular hemorrhage,GMH-IVH)、脑室周出血性梗死(periventricular hemorrhagic infarction,PHI)、脑室周围白质软化(periventricular leukomalacia,PVL)及弥漫性脑白质损伤(diffuse white matter injury,DWMI),其中PVL和DWMI发生率较高且损伤程度较重,与远期致残率相关。

简介:《护理与康复》(CN:33-1298/R)是一本有较高学术价值的大型月刊,自创刊以来,选题新奇而不失报道广度,服务大众而不失理论高度。颇受业界和广大读者的关注和好评。

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