Journal Of Physics G-nuclear And Particle Physics杂志是一本国际优秀期刊，是一本未开放获取期刊。该杂志近三年影响因子分别为：2026年3.1、2025年3.5、2024年3.4。该杂志近三年CiteScore评价值分别为：2025年6、2024年7.7、2023年7.6。该刊专门致力于推进物理核物理领域的研究，涵盖了物理核物理领域的各个方面，汇集所有专家，促进物理核物理领域的更好协作和信息共享。该期刊为物理核物理领域的科研人员提供了一个高影响力的论坛，使该领域的科研人员、从业人员和学生能够接触到尖端的经验性调查分析、学术对话以及行业科研成果的最新发展。通过收录高质量的原创论文和评论论文，促进物理核物理领域的应用与发展。该期刊还将该领域的创新与应用，以提高研究的质量和实用性。近年来在该刊上发文的国家和地区主要有：Vietnam（发文量7）、Uzbekistan（发文量3）、Uruguay（发文量2）、Ukraine（发文量7）、USA（发文量103）、Turkey（发文量17）。
Journal Of Physics G-nuclear And Particle Physics是一本由IOP Publishing Ltd.出版社发行的知名物理核物理期刊。该杂志社联系方式IOP PUBLISHING LTD, DIRAC HOUSE, TEMPLE BACK, BRISTOL, ENGLAND, BS1 6BE。审稿过程是确保期刊质量的关键环节。Journal Of Physics G-nuclear And Particle Physics杂志的审稿速度平均需要一般,3-8周。这一时间周期既体现了编辑部对稿件质量的严格把关，也反映了审稿专家对学术研究的尊重和支持。在这个过程中，作者们可以充分利用这段时间对自己的研究成果进行完善和优化，以提高论文的质量和影响力。如果您对该期刊感兴趣，并希望了解更多关于投稿流程、投稿要求和技巧的信息，您可以咨询本站的客服老师，我们将帮助您了解期刊的投稿要求、审稿流程以及可能遇到的问题，并根据您的具体情况提供相应的建议和解决方案。
Journal Of Physics G-nuclear And Particle Physics杂志近期中国学者发表的论文主要有：
-
1、Calculations of di-hadron production via two-photon processes in relativistic heavy-ion collision
Author: Wang, Luobing; Li, Xinbai; Tang, Zebo; Wu, Xin; Zha, Wangmei
-
2、First self-consistent study of 1n halo nucleus 19C from D-RHFB structure to reaction observables on a beryllium targe
Author: An, Jia Lin; Li, Hao Chen; Geng, Jing; Long, Wen Hui; Zhang, Shi Sheng
-
3、Effect of hadronic transport processes on HBT radii in the AMPT mode
Author: Zhang, Yao
-
4、Neutrinoless double beta decay sensitivity of the XLZD rare event observator
Author: Aalbers, J.; Abe, K.; Adrover, M.; Maouloud, S. Ahmed; Akerib, D. S.; Al Musalhi, A. K.; Alder, F.; Althueser, L.; Amaral, D. W. P.; Amarasinghe, C. S.; Ames, A.; Andrieu, B.; Angelides, N.; Angelino, E.; Antunovic, B.; Aprile, E.; Araujo, H. M.; Armstrong, J. E.; Arthurs, M.; Babicz, M.; Baker, A.; Balzer, M.; Bang, J.; Barberio, E.; Bargemann, J. W.; Barillier, E.; Basharina-Freshville, A.; Baudis, L.; Bauer, D.; Bazyk, M.; Beattie, K.; Beaupere, N.; Bell, N. F.; Bellagamba, L.; Benson, T.; Bhatti, A.; Biesiadzinski, T. P.; Biondi, R.; Biondi, Y.; Birch, H. J.; Bishop, E.; Bismark, A.; Boehm, C.; Boese, K.; Bolotnikov, A.; Bras, P.; Braun, R.; Breskin, A.; Brew, C. A. J.; Brommer, S.; Brown, A.; Bruni, G.; Budnik, R.; Burdin, S.; Cai, C.; Capelli, C.; Carini, G.; Carmona-Benitez, M. C.; Carter, M.; Chauvin, A.; Chawla, A.; Chen, H.; Cherwinka, J. J.; Chin, Y. T.; Chott, N. I.; Chavez, A. P. Cimental; Clark, K.; Colijn, A. P.; Colling, D. J.; Conrad, J.; Converse, M. V.; Coronel, R.; Costanzo, D.; Cottle, A.; Cox, G.; Cuenca-Garcia, J. J.; Curran, D.; Cussans, D.; D'Andrea, V.; Garcia, L. C. Daniel; Darlington, I.; Dave, S.; David, A.; Davies, G. J.; Decowski, M. P.; Deisting, A.; Delgaudio, J.; Dey, S.; Di Donato, C.; Di Felice, L.; Di Gangi, P.; Diglio, S.; Ding, C.; Dobson, J. E. Y.; Doerenkamp, M.; Drexlin, G.; Druszkiewicz, E.; Dunbar, C. L.; Eitel, K.; Elykov, A.; Engel, R.; Eriksen, S. R.; Fayer, S.; Fearon, N. M.; Ferella, A. D.; Ferrari, C.; Fieldhouse, N.; Fischer, H.; Flaecher, H.; Flehmke, T.; Flierman, M.; Fraser, E. D.; Fruth, T. M. A.; Fujikawa, K.; Fulgione, W.; Fuselli, C.; Gaemers, P.; Gaior, R.; Gaitskell, R. J.; Gallice, N.; Galloway, M.; Gao, F.; Garroum, N.; Geffre, A.; Genovesi, J.; Ghag, C.; Ghosh, S.; Giacomobono, R.; Gibbons, R.; Girard, F.; Glade-Beucke, R.; Glueck, F.; Gokhale, S.; Grandi, L.; Green, J.; Grigat, J.; van der Grinten, M. G. D.; Groessle, R.; Guan, H.; Guida, M.; Gyorgy, P.; Haiston, J. J.; Hall, C. R.; Hall, T.; Hammann, R.; Hannen, V.; Hansmann-Menzemer, S.; Hargittai, N.; Hartigan-O'Connor, E.; Haselschwardt, S. J.; Hernandez, M.; Hertel, S. A.; Higuera, A.; Hils, C.; Hiraoka, K.; Hoetzsch, L.; Hoferichter, M.; Homenides, G. J.; Hood, N. F.; Horn, M.; Huang, D. Q.; Hughes, S.; Hunt, D.; Iacovacci, M.; Itow, Y.; Jacquet, E.; Jakob, J.; James, R. S.; Joerg, F.; Jones, S.; Kaboth, A. C.; Kahlert, F.; Kamaha, A. C.; Kaminaga, Y.; Kara, M.; Kavrigin, P.; Kazama, S.; Keller, M.; Kemp-Russell, P.; Khaitan, D.; Kharbanda, P.; Kilminster, B.; Kim, J.; Kirk, R.; Kleifges, M.; Klute, M.; Kobayashi, M.; Kodroff, D.; Koke, D.; Kopec, A.; Korolkova, E. V.; Kraus, H.; Kravitz, S.; Kreczko, L.; von Krosigk, B.; Kudryavtsev, V. A.; Kuger, F.; Kurita, N.; Landsman, H.; Lang, R. F.; Lawes, C.; Lee, J.; Lehnert, B.; Leonard, D. S.; Lesko, K. T.; Levinson, L.; Li, A.; Li, I.; Li, S.; Liang, S.; Liang, Z.; Lin, J.; Lin, Y-T; Lindemann, S.; Linden, S.; Lindner, M.; Lindote, A.; Lippincott, W. H.; Liu, K.; Loizeau, J.; Lombardi, F.; Lopes, J. A. M.; Lopes, M. I.; Lorenzon, W.; Loutit, M.; Lu, C.; Lucchetti, G. M.; Luce, T.; Luitz, S.; Ma, Y.; Macolino, C.; Mahlstedt, J.; Maier, B.; Majewski, P. A.; Manalaysay, A.; Mancuso, A.; Manenti, L.; Mannino, R. L.; Marignetti, F.; Marley, T.; Undagoitia, T. Marrodan; Martens, K.; Masbou, J.; Masson, E.; Mastroianni, S.; Maupin, C.; McCabe, C.; McCarthy, M. E.; McKinsey, D. N.; Mclaughlin, J. B.; Melchiorre, A.; Menendez, J.; Messina, M.; Miller, E. H.; Milosovic, B.; Milutinovic, S.; Miuchi, K.; Miyata, R.; Mizrachi, E.; Molinario, A.; Monteiro, C. M. B.; Monzani, M. E.; Mora, K.; Moriyama, S.; Morrison, E.; Morteau, E.; Mosbacher, Y.; Mount, B. J.; Mueller, J.; Murdy, M.; Murphy, A. St J.; Murra, M.; Naylor, A.; Nelson, H. N.; Neves, F.; Newstead, J. L.; Nguyen, A.; Ni, K.; O'Hare, C.; Oberlack, U.; Obradovic, M.; Olcina, I.; Oliver-Mallory, K. C.; Orebi Gann, G. D.; Orpwood, J.; Ouahada, S.; Oyulmaz, K.; Paetsch, B.; Palladino, K. J.; Palmer, J.; Pan, Y.; Pandurovic, M.; Pannifer, N. J.; Paramesvaran, S.; Patton, S. J.; Pellegrini, Q.; Penning, B.; Pereira, G.; Peres, R.; Perry, E.; Pershing, T.; Piastra, F.; Pienaar, J.; Piepke, A.; Pierre, M.; Plante, G.; Pollmann, T. R.; Principe, L.; Qi, J.; Qiao, K.; Qie, Y.; Qin, J.; Radeka, S.; Radeka, V.; Rajado, M.; Garcia, D. Ramirez; Ravindran, A.; Razeto, A.; Reichenbacher, J.; Rhyne, C. A.; Richards, A.; Rischbieter, G. R. C.; Riyat, H. S.; Rosero, R.; Roy, A.; Rushton, T.; Rynders, D.; Saakyan, R.; Sanchez, L.; Sanchez-Lucas, P.; Santone, D.; dos Santos, J. M. F.; Sartorelli, G.; Sazzad, A. B. M. R.; Scaffidi, A.; Schnee, R. W.; Schreiner, J.; Schulte, P.; Schulze Eissing, H.; Schumann, M.; Schwenck, A.; Schwenk, A.; Lavina, L. Scotto; Selvi, M.; Semeria, F.; Shagin, P.; Sharma, S.; Shaw, S.; Shen, W.; Sherman, L.; Shi, S.; Shi, S. Y.; Shimada, T.; Shutt, T.; Silk, J. J.; Silva, C.; Simgen, H.; Sinev, G.; Singh, R.; Siniscalco, J.; Solmaz, M.; Solovov, V. N.; Song, Z.; Sorensen, P.; Soria, J.; Stanley, O.; Steidl, M.; Stenhouse, T.; Stevens, A.; Stifter, K.; Sumner, T. J.; Takeda, A.; Tan, P-L; Taylor, D. J.; Taylor, W. C.; Thers, D.; Thuemmler, T.; Tiedt, D. R.; Toennies, F.; Tong, Z.; Toschi, F.; Tovey, D. R.; Tranter, J.; Trask, M.; Trinchero, G.; Tripathi, M.; Tronstad, D. R.; Trotta, R.; Tunnell, C. D.; Urquijo, P.; Uson, A.; Utoyama, M.; Vaitkus, A. C.; Valentino, O.; Valerius, K.; Vecchi, S.; Velan, V.; Vetter, S.; de Viveiros, L.; Volta, G.; Vorkapic, D.; Wang, A.; Wang, J. J.; Wang, Y.; Waters, D.; Weerman, K. M.; Weinheimer, C.; Weiss, M.; Wenz, D.; Whitis, T. J.; Wild, K.; Williams, M.; Wilson, M.; Wilson, S. T.; Wittweg, C.; Wolf, J.; Wolfs, F. L. H.; Woodford, S.; Woodward, D.; Worcester, M.; Wright, C. J.; Wu, V. H. S.; Wuestling, S.; Wurm, M.; Xia, Q.; Xing, Y.; Xu, D.; Xu, J.; Xu, Y.; Xu, Z.; Yamashita, M.; Yang, L.; Ye, J.; Yeh, M.; Yu, B.; Zavattini, G.; Zha, W.; Zhong, M.; Zuber, K
-
5、Theoretical tools for neutrino scattering: interplay between lattice QCD, EFTs, nuclear physics, phenomenology, and neutrino event generator
Author: Alvarez-Ruso, L.; Ankowski, A. M.; Bacca, S.; Balantekin, A. B.; Carlson, J.; Gardiner, S.; Gonzalez-Jimenez, R.; Gupta, R.; Hobbs, T. J.; Hoferichter, M.; Isaacson, J.; Jachowicz, N.; Jay, W., I; Katori, T.; Kling, F.; Kronfeld, A. S.; Li, S. W.; Lin, H-W; Liu, K-F; Lovato, A.; Mahn, K.; Menendez, J.; Meyer, A. S.; Morfin, J.; Pastore, S.; Rocco, N.; Athar, M. Sajjad; Sato, T.; Schwenk, A.; Shanahan, P. E.; Strigari, L. E.; Wagman, M. L.; Zhang, X.; Zhao, Y.; Acharya, B.; Andreoli, L.; Andreopoulos, C.; Barrow, J. L.; Bhattacharya, T.; Brdar, V; Giusti, C.; Hayato, Y.; Khan, A. N.; Kim, D.; Li, Y. F.; Lin, M.; Machado, P.; Martini, M.; Niewczas, K.; Pandey, V; Papadopoulou, A.; Plestid, R.; Roda, M.; Ruiz Simo, I; Simone, J. N.; Sufian, R. S.; Tena-Vidal, J.; Tomalak, O.; Tsai, Y-D; Udias, J. M
-
6、Secondary electron emission model for x-ray-induced photoelectric emission from semiconductors and insulators and the calculation of x-ray attenuation cross-section
Author: Zhuang, Zhong; Xie, Ai-Gen; Xu, Yi-Kang
